Новые возможности электронной микроскопии Версия для слабовидящих
Новые возможности электронной микроскопии Печать Email
Новости об инновациях
15.10.2014

Новый микроскоп лучше приспособлен для регистрации колебаний, возбуждамых пучком электронов, чем инструменты прошлых поколений. Новый микроскоп лучше приспособлен для регистрации колебаний, возбуждамых пучком электронов, чем инструменты прошлых поколений.

Электронную микроскопию вполне можно назвать рабочей лошадкой специалистов по наноматериалам – этот метод позволяет изучать объекты, получая информацию с атомным разрешением. Исследователям удалось модифицировать электронную микроскопию, добавив в схему электронного микроскопа блок, отвечающий за регистрацию ИК-спектра. Модификация может оказаться полезной для изучения того, каким образом наночастицы принимают участие в таких процессах, как катализ, перенос тепла и конверсия солнечной энергии.

С помощью сканирующих туннельных электронных микроскопов уже в течение десятилетий можно возбуждать колебания элементов кристаллической решетки, однако этот инструмент не может детектировать флуктуационные колебания, энергия которых невысока.

Такие колебания обычно изучаются с помощью спектроскопии ИК или КР, каждая из которых позволяет анализировать эти колебания, картина которых позволяет изучить химические связи в образце.

Как отмечает Ондрей Криванек (Ondrej L. Krivanek), сооснователь фирмы Nion, специализирующейся на разработке электронных микроскопов, чаще всего в любой непонятной ситуации химики-органики предпочитают изучать объекты с помощью спектроскопии комбинационного рассеивания.

Это обстоятельство побудило разработчиков электронных микроскопов разработать способ регистрации сигналов, которые очень активно помогают и органикам, и другим химикам, но никогда не изучались в рамках различных версий электронной микроскопии.

Для того чтобы детектировать эти сигналы с помощью электронного микроскопа, Криванек и его коллеги усилили чувствительность методики, известной как спектроскопия характеристических потерь энергии электронов ( electron energy-loss spectroscopy). Измерения изменения энергии электронов, проходящих через образец, позволяет определить, какая доля этой энергии затрачивается на возбуждение колебаний.

Тем не менее, большинство электронов проходит через образец, не теряя энергии, в результате чего формируются интенсивные и уширенные спектры, и структура спектра в ряде случаев не позволяет зарегистрировать слабые сигналы от малоинтенсивных колебаний. По словам Криванека,

новый инструмент позволяет увеличить разрешение спектроскопии характеристических потерь энергии электронов в двадцать раз.

Комбинация электронного микроскопа со спектрометром характеристических потерь энергии электронов высокого разрешения позволяет наблюдать за колебаниями атомов.

Несмотря на уже достигнутые успехи, Криванек уверен в том, что еще есть возможность дальнейшей модификации новой комбинированной системы – стратегической задачей исследователь считает достичь такой чувствительности и разрешающей способности устройства, которая бы позволила регистрировать колебания отдельных атомов.

Источник - http://www.nanonewsnet.ru/news/2014/novye-vozmozhnosti-elektronnoi-mikroskopii

 

Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта Карта сайта